Belépés címtáras azonosítással
magyar nyelvű adatlap
Hibaanalitika
A tantárgy angol neve: Failure Analysis
Adatlap utolsó módosítása: 2018. december 5.
Villamosmérnök Szak MSc képzés
Mikroelektronika és Elektronikai Technológia főspecializáció
Név:
Beosztás:
Tanszék, Int.:
Dr. Gordon Péter
egyetemi docens
ETT
Dr. Harsányi Gábor
egyetemi tanár
Dr. Hurtony Tamás
Fizika, Elektronikai technológia
A fenti forma a Neptun sajátja, ezen technikai okokból nem változtattunk.
A kötelező előtanulmányi rend az adott szak honlapján és képzési programjában található.
A tantárgy célja, hogy a hallgatók megismerjék az elektronikai gyártás és az elektronikai termékek működése során fellépő meghibásodások gyökérokainak azonosításához szükséges hibaanalitikai módszereket.
A tárgyat teljesítő hallgató készséget szerez
Előadások tematikája:
1. hét
Bevezetés. A vizsgálati és hibaanalitikai tevékenység motivációi, helye és szerepe az elektronikai gyártás és minőségbiztosítás területén. Alkalmazott módszerek csoportosítási lehetőségei.
2. hét
Optikai vizsgálatok. Optikai mikroszkópia, mikroszkóp típusok, felépítésük, megvilágítási módok. Az optikai rendszerek hibái, a felbontást és mélységélességet korlátozó tényezők.
3. hét
Materialográfiai és keresztcsiszolati vizsgálatok. Materialográfia szerepe az elektronikai technológiában, alkalmazott anyagok, mintaelőkészítés, a vizsgálatból nyerhető információk és azok korlátai.
4. hét
Röntgenes szerkezetvizsgálatok. Röntgensugárzás keletkezése, jellemzői. Röntgenmikroszkópok megvalósítási formái, felépítésük. Detektor típusok, képalkotási, képfeldolgozási lehetőségek.
5. hét
Akusztikus mikroszkópia. Belső szerkezetek akusztikus hullámmal történő vizsgálatának alapjai, berendezések felépítése, detektorok kialakítási formái.
6. hét
Pásztázó elektronmikroszkópia I. Elektronmikroszkóp felépítése, az elektronoptikai rendszer hibái. Gerjesztett térfogat, szekunder és visszaszórt elektronok, karakterisztikus röntgensugárzás keletkezése
7. hét
Pásztázó elektronmikroszkópia II. Válaszjelek detektálása. Elektronsugaras mikroanalízis.
8. hét
Anyagösszetétel meghatározási módszerek I. Gerjesztő és válaszjel (elektronok, ionok, röntgen fotonok) kapcsolata, módszerek csoportosítása. XRF-röntgenfluoreszcens spektroszkópia, XPS-röntgen fotoelektron spektroszkópia, AES-Auger elektron spektroszkópa, SIMS-szekunderion tömegspektroszkópia.
9. hét
Anyagösszetétel meghatározási módszerek II. Infravörös spektroszkópia. A módszerek összehasonlítása alkalmazási terület, detektálási határok, detektálható elemek, felbontás szempontjából.
10. hét
A vizsgálati és hibaanalitikai módszerek szabványai, elektronikai gyártmányok minősítésére vonatkozó szabványok. IPC-TM-650, IPC-A-600, IPC-A-610
11. hét
Termikus tranziens mérés mint pre- és poszt-stressz vizsgálati módszer.
12. hét
Mérőrendszer analízis (MSA)
13. hét
Az elektronikai termékek hibaanalitikai eszköztára a gyártás-validáció szolgáltában.
14. hét
A félév során elhangzott anyagok összefoglalása, a tárgyon kívülre mutató összefüggések ismétlése.
Tantermi gyakorlatok tematikája:
1. alkalom
Elektronikai termékek hibajelenségeinek összefoglalása, csoportosítási szempontok bemutatása
2. alkalom
Hibaanalitikai vizsgálatok vizsgálati tervének elkészítése I.
3. alkalom
Hibaanalitikai vizsgálatok vizsgálati tervének elkészítése II.
4. alkalom
Dokumentálás, szakértői jelentések készítése, értelmezése.
5. alkalom
A módszerek összehasonlító elemzése esettanulmányok segítségével I.
6. alkalom
A módszerek összehasonlító elemzése esettanulmányok segítségével II.
7. alkalom
A módszerek összehasonlító elemzése esettanulmányok segítségével III.
A vizsgaidőszakban: a tantárgy írásbeli vizsgával zárul.
Igény szerint, előre egyeztetett időpontban és az előadások valamint a tantermi gyakorlatok közötti szünetekben.
Electronic Failure Analysis Handbook – Perry L. Martin, McGraw-Hill, 1999
Szabványos vizsgálati módszerek – IPC TM-650
A pásztázó elektronmikroszkópia és az elektronsugaras mikroanalízis alapjai – Pozsgai Imre, ELTE Eötvös Kiadó, Budapest, 1995